Способ измерения теплового сопротивления переход-корпус силовых полупроводниковых приборов

Описание
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частности к технике измерения тепловых параметров силовых полупроводниковых приборов (СПП) в корпусном исполнении. Технический результат - обеспечение неразрушающего контроля теплового сопротивления переход- корпус СПП, сокращение времени измерения и в конечном итоге повышение выхода годности изделий в технологическом цикле их серийного производства. Сущность: полупроводниковый кристалл нагревают путем пропускания через него постоянного тока заданной амплитуды I. В процессе нагрева измеряют величину I и падение напряжения U на испытуемом приборе. Величину греющей мощности Р вычисляют по выражению Р=IU. По истечении времени t, равного утроенному значению тепловой постоянной конструкции прибора t=3τT, источник греющего тока отключают. Одновременно подключают источник измерительного тока и измеряют величину термочувствительного параметра в момент отключения источника греющего тока, в качестве которого используют прямое падение напряжения на кристалле Unp1. По истечении времени t=3τT по окончании процесса естественного перераспределения накопленного полупроводниковым кристаллом тепла по структуре конструкции прибора, включая массивное тело основания корпуса прибора, производят повторное измерение величины термочувствительного параметра Unp2. По полученным значениям рассчитывают разность Unp1-Unp2 и определяют разность между температурами перехода и корпуса испытуемого прибора KT⋅(Unp1-Unp2)=TJ-TC, где KT - величина температурного коэффициента прямого напряжения. Величину теплового сопротивления переход-корпус Rthjc рассчитывают как отношение полученных значений TJ-TC и мощности Р. 8 ил.
Тэги
нагрев силовой прибор измерение амплитуды тело корпуса прибор для измерения источник греющей температуры измерение тока сопротивление контроль параметров коэффициент мощности падение напряжения источник постоянного тока разность температур силовой источник источник тока величина амплитуды амплитуда постоянное напряжение источник напряжения полупроводниковый прибор измерение температуры производство производство изделий конструкции корпус технологический процесс измерение сопротивления контроль температуры измерение параметров измерительный прибор техника тепло конструкция измерение величины постоянный ток мощность приборы тепловое сопротивление полупроводниковые приборы коэффициент пропускания контроль качества кристалл контрольные приборы измерение неразрушающий контроль контроль кристаллы прибор тепловые измерения контроль тока технологические процессы напряжение температура контрольно-измерительная техника измерительные приборы контрольно-измерительные приборы измерительная техника измерения ток
Дата
2019-10-28
Патентообладатели
"Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования ""Ставропольский государственный аграрный университет"" "
Авторы
Ершов Андрей Борисович , Хорольский Владимир Яковлевич , Байрамалиев Султан Шарифидинович
Номер заявки
RU 02724148 C1 20200622
Предметная область
Нет данных
Ссылка на ФИПС