Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для оценки надежности и качества различных изделий. Способ включает размещение на изделии в начале траектории сканирования эталонного дефекта, соответствующего по характеристикам реальному дефекту в изделии и имеющего размеры, соответствующие минимально возможным размерам дефекта в изделии, измерение перед проведением контроля величины сигнала на изделии на расстоянии не более размера минимального дефекта, измерение величины изменения сигнала на эталонном дефекте, установку величины порогового сигнала для выявления дефектов в изделии, двухмерное сканирование в координатах х, у поверхности контролируемого объекта по траектории возвратно-поступательного движения датчиком излучения физического поля с шагом Δх, Δу, воздействие на изделие в процессе сканирования физическим полем в виде импульсного сигнала с частотой fи, измерение величины сигналов излучения физического поля после взаимодействия с изделием с каждой точки поверхности изделия, регистрацию дефектов путем сравнения текущего значения сигнала по траектории сканирования с значением пороговым сигнала. Согласно изобретению, при обнаружении дефекта увеличивают частоту импульсов воздействия физическим полем и уменьшают шаг сканирования. После выхода за границы j-го дефекта частоту импульсов и шаг сканирования снижают. Для осуществления способа используют устройство для автоматизированного контроля сплошности изделий. Технический результат - обеспечение оперативного достоверного контроля сплошности многослойных сложных конструкций и их элементов в процессе производства и в реальных условиях эксплуатации, т.е. снижение погрешности определения границ и местоположения дефектных участков без снижения производительности контроля. 2 н. и 1 з.п. ф-лы, 18 ил., 2 табл.